當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 樣品臺 > Other Holders > 透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿
簡要描述：透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿通過一系列的不同傾斜角獲得樣品的二維成像信息,并對其進(jìn)行處理轉(zhuǎn)化為三維信息，該樣品臺可直接組裝直徑3 mm的銅網(wǎng)樣品，不僅可進(jìn)行樣品的三維重構(gòu)，還可用于樣品材料的掃描透射模式下高角環(huán)形暗場成像（HAADF-STEM）的高分辨分析。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2023-12-27訪 問 量： 4871產(chǎn)品分類
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創(chuàng)新設(shè)計，提高實驗效率
1．雙邊緊固銅網(wǎng)方式，漂移率低，樣品易組裝。
2．中心對稱設(shè)計，避免樣品桿傾斜過程中重心偏移，提供迅速穩(wěn)定的層析成像。
優(yōu)異性能，Excellent體驗
1．大于±75°的高傾斜角，保證視野zui da hua。
2．高強度鈦合金材質(zhì)，高精度加工，經(jīng)久耐用。
| 類別 | 項目 | 參數(shù) |
| 基本參數(shù) | 桿體材質(zhì) | 高強度鈦合金 |
| 漂移率 | ＜0.5 nm/min（穩(wěn)定狀態(tài)） | |
| 分辨率 | 電鏡極限分辨率 | |
| (HR)TEM/STEM | 支持 | |
| (HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
電子斷層掃描對納米尺度地質(zhì)材料的三維分析
參考文獻(xiàn)來源：Three-dimensional Analyses of Geological Materials on Nanoscale by Electron Tomography[J]. Atomic Spectroscopy, 2022.
ET示意圖。不同傾斜角度下的一系列TEM圖像的獲取(a)和從獲得的傾斜系列中重建樣本的3D結(jié)構(gòu)(b)。
(a)使用FIB制備的黃鐵礦柱狀樣品的HAADF-STEM圖和(b)STEM-EDS圖；以及從-63°到+70°以0.5°間隔獲得的不同傾斜角的3D重建結(jié)果（c-f）。
(a-d)分別是在-44°、0°、+44°和+66°處獲取的原始HAADF-STEM傾斜角度圖像；（e-g）是從-44°到+66°以2°間隔獲得重建的3D模型圖。
獲取EELS譜圖用于3D視圖的元素和氧化態(tài)的重建模型
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