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廖洪剛EES:原子通道鋰的超致密輸運(yùn)用于無(wú)枝晶鋰金屬電池
2023-08-23

文章信息原子通道中鋰的超致密輸運(yùn)用于無(wú)枝晶鋰金屬電池第一作者:周詩(shī)遠(yuǎn),陳瑋鑫,施杰通訊作者:廖洪鋼教授通訊單位:廈門大學(xué)研究背景作為商用鋰離子電池的替代品,以鋰金屬作為負(fù)極的儲(chǔ)能體系被認(rèn)為是下一代高能量密度電池的有效解決方案。盡管鋰金屬電池...

  • 2021-03-29

    TEM液體加熱樣品桿可實(shí)現(xiàn)樣品的液氛環(huán)境埃米級(jí)高分辨成像和準(zhǔn)確、均勻、安全控溫。液體流道采用惰性材料防腐設(shè)計(jì),進(jìn)液采用納流體微分控制方式,可以有效防止?jié)B漏,革命性提升原位設(shè)備安全性,保障實(shí)驗(yàn)過(guò)程電鏡安全。對(duì)應(yīng)電鏡原位觀察而言,可觀察范圍基本在微米級(jí)別,整體可觀察體積小于納升,因此過(guò)量液體對(duì)實(shí)驗(yàn)毫無(wú)幫助,且引入巨大安全風(fēng)險(xiǎn),我司的原位液氛納流控安全管理系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)納升級(jí)別液體引入,高效準(zhǔn)確的納流體微分控制液體的流速流量及準(zhǔn)確通過(guò)樣品觀察區(qū)域,且實(shí)驗(yàn)中引入總液體極其微量(小于25μL...

  • 2021-03-27

    原位液體電化學(xué)樣品臺(tái)是通過(guò)MEMS微加工工藝,在標(biāo)準(zhǔn)的掃描電鏡樣品臺(tái)基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)電路,搭建可視化NANO-LAB和電學(xué)控制模塊,配合外接法蘭可與電化學(xué)工作站連接通信。原位掃描電化學(xué)反應(yīng)系統(tǒng)在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)內(nèi)置三電極電學(xué)模塊,可在掃描電鏡中實(shí)現(xiàn)液體樣品的電化學(xué)反應(yīng)過(guò)程的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)成像。超新芯提供的SEM液相電化學(xué)樣品臺(tái)可以同時(shí)對(duì)四個(gè)液體樣品(三個(gè)靜態(tài)和一個(gè)流體)進(jìn)行觀察,每個(gè)樣品都被密封在各自的芯片內(nèi),且互不影響。芯片采用與原位透射電子顯微系統(tǒng)一樣的上下兩片芯片,通過(guò)鍵合內(nèi)封和環(huán)氧樹脂...

  • 2021-03-24

    隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,普通透射電鏡(TEM)已經(jīng)不能滿足科學(xué)家的科研需求。而在透射電鏡基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái)的原位技術(shù),大大的拓展了透射電鏡的應(yīng)用范圍,有效提高科學(xué)家原位納米尺度的研究手段,獲得越來(lái)越多科學(xué)家的認(rèn)同。TEM液體加熱樣品桿是通過(guò)MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))微加工工藝,在透射電鏡內(nèi)部搭建可視化液氛NANO-LAB(納米實(shí)驗(yàn)室)和四電極反饋控溫模塊,加熱區(qū)覆蓋整個(gè)觀測(cè)區(qū)域,升溫快、熱場(chǎng)穩(wěn)定且均勻,實(shí)現(xiàn)樣品的液氛環(huán)境埃米級(jí)高分辨成像和精*、均勻、安全控溫。液體加熱樣品桿采用基于液...

  • 2020-10-26

    原位液相樣品桿可幫助科學(xué)家對(duì)流動(dòng)或靜態(tài)液體進(jìn)行原子分辨率的觀察。隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,普通透射電鏡(TEM)已經(jīng)不能滿足科學(xué)家的科研需求。而在透射電鏡基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái)的原位技術(shù),能夠突破現(xiàn)有透射電鏡對(duì)于真空度要求的限制,利用現(xiàn)有電鏡平臺(tái)即可完成原位氣體環(huán)境及加熱功能,使科研工作者能夠在更寬的參數(shù)(氣體,氣壓,溫度)范圍內(nèi)研究材料。大大的拓展了透射電鏡的應(yīng)用范圍,有效提高科學(xué)家原位納米尺度的研究手段。原位液相樣品桿的優(yōu)點(diǎn):1、一桿多用:僅僅通過(guò)更換芯片,即可實(shí)現(xiàn)原位加熱、原位電...

  • 2020-10-24

    透射電子顯微鏡是一種提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。透射電子顯微鏡原位電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控和電學(xué)測(cè)量。原位加熱樣品桿適合ETEM和TEM中的原位高溫實(shí)驗(yàn),其對(duì)功率消耗和樣品熱漂移進(jìn)行了優(yōu)化以獲得好的性能。該樣品桿的高性能原材料和熱管理系統(tǒng)可幫助科學(xué)家對(duì)高溫下的樣品進(jìn)行原子分辨率的快速拍照與觀察。能夠在透射電鏡(TEM)內(nèi)為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結(jié)...

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