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多孔氮化硅TEM載網(wǎng)

簡要描述:多孔氮化硅TEM載網(wǎng),以高純單晶硅為基底,超薄氮化硅(10-50nm)為支撐膜,可實(shí)現(xiàn)原子級分辨率。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2023-12-27
  • 訪  問  量: 4788

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詳細(xì)介紹

多孔氮化硅TEM載網(wǎng)是透射電鏡常用的耗材之一,其主要作用為在電鏡觀察時(shí)負(fù)載樣品,為了能夠負(fù)載一些小尺寸的樣品,載網(wǎng)上通常需要覆蓋一層載網(wǎng)膜,載網(wǎng)膜的種類繁多,常見的載網(wǎng)膜為碳膜。多孔氮化硅TEM載網(wǎng)是以高純單晶硅為基底,超薄氮化硅(10-50nm)為支撐膜,可實(shí)現(xiàn)原子級分辨率。

與傳統(tǒng)銅網(wǎng)相比,使用的超薄氮化硅膜不含碳元素,可有效避免積碳,尤其適合球差原子分辨表征。超薄氮化硅膜更耐酸耐高溫,適用于酸性條件下制備樣品,及1000攝氏度的高溫環(huán)境。具有耐電子束輻照,電子束穿透率高,成像背景均勻和噪音小等優(yōu)點(diǎn)。可以在不同分析儀器間轉(zhuǎn)移分析,如TEM,AFM,XRD,EXAFS,Raman等。


我們的優(yōu)勢

原子級分辨率

1.超薄非晶氮化硅膜,無不均勻背景;

2.電子束對超薄氮化硅膜穿透率高,成像背景噪音小。


穩(wěn)定性好

采用超高溫鍍膜技術(shù),耐電子束輻照,不會破損或抖動導(dǎo)致樣品漂移。


超潔凈

1.超凈室生產(chǎn);

2.可等離子清潔;

3.載網(wǎng)不含C元素或有機(jī)物,避免積碳尤其適合球差原子分辨表征。



技術(shù)參數(shù)

類別項(xiàng)目參數(shù)
基本參數(shù)孔尺寸
5x50um
孔數(shù)量30-45個(gè)
芯片尺寸
2.8*2.8mm












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