多孔氮化硅TEM載網(wǎng)與傳統(tǒng)銅網(wǎng)相比,使用的超薄氮化硅膜不含碳元素,可有效避免積碳,尤其適合球差原子分辨表征。超薄氮化硅膜更耐酸耐高溫,適用于酸性條件下制備樣品,及1000攝氏度的高溫環(huán)境。具有耐電子束輻照,電子束穿透率高,成像背景均勻和噪音小等優(yōu)點(diǎn)??梢栽诓煌治鰞x器間轉(zhuǎn)移分析,如TEM,AFM,XRD,EXAFS,Raman等。
在使用多孔氮化硅TEM載網(wǎng)時(shí),需要確保樣品能夠牢固地吸附在載網(wǎng)上,以免在TEM測(cè)試過(guò)程中滑落或移動(dòng)。這通常通過(guò)在載網(wǎng)上覆蓋一層支持膜(如碳膜)來(lái)實(shí)現(xiàn)。
多孔氮化硅TEM載網(wǎng)廣泛應(yīng)用于各種納米材料的TEM測(cè)試中,包括但不限于金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、高分子材料等。其優(yōu)異的性能使得它成為TEM測(cè)試中常用的耗材之一。